Le NIST achète le SSTR-F de Laser Thermal pour soutenir le programme de métrologie CHIPS for America

Le National Institute of Standards and Technology (NIST) a acquis l'outil Steady State Thermoreflectance in Fiber (SSTR-F) de Laser Thermal. Cette acquisition vise à améliorer la capacité du NIST à mesurer la conductivité thermique de divers matériaux utilisés dans les composants microélectroniques, contribuant ainsi au programme de métrologie des propriétés thermiques CHIPS for America.

Le SSTR-F de Laser Thermal permet des mesures sans contact et non destructives adaptées aux films minces, aux interfaces et aux matériaux en vrac. Cet outil aidera le NIST à relever les principaux défis de métrologie identifiés dans l'industrie, le monde universitaire et les agences gouvernementales.

Le programme de métrologie CHIPS se concentre sur des mesures précises et exactes pour la production microélectronique. Il aborde sept grands défis, notamment la métrologie avancée pour la fabrication future et l'amélioration de la sécurité des composants microélectroniques.

John Gaskins, PDG de Laser Thermal, a souligné l'importance du SSTR-F dans la fourniture de données et de protocoles pour l'industrie des semi-conducteurs, en particulier à mesure que le besoin d'une gestion thermique efficace augmente dans les applications à haute puissance comme l'IA et les centres de données.